DFT可測試性設計理論和實踐培訓班 |
課程說明: |
該課程是對可測試設計(DFT)內容的一個系統化的介紹。通過對該課程的學習,學員不僅能對DFT的概念及理論有系統的認識,更重要的是通過課堂內容及實驗的講解,可以對DFT所涉及的問題有一定的分析和解決能力。本課程涵蓋常用的方法---掃描合成(SCAN synthesis),內建自我測試(BIST),自動測試向量產生(automatic test pattern generation),及錯誤模型(fault simulation)等,
課程依托大型SOC項目,系統介紹了在實際項目中,怎樣考慮所面臨的問題,并終采取有效的方法
解決測試品質及測試成本等問題。
本課程適合于使用數字電路進行科研和芯片設計的學生和工程師,也適合于有志于從事數字芯片設計工作,期望進入數字芯片設計領域的相關人員。參加學習的學員可以是零基礎的理工科本科生或研究生。
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上課時間和地點 |
上課地點:【上海】:同濟大學(滬西)/新城金郡商務樓(11號線白銀路站) 【深圳分部】:電影大廈(地鐵一號線大劇院站)/深圳大學成教院 【北京分部】:北京中山/福鑫大樓 【南京分部】:金港大廈(和燕路) 【武漢分部】:佳源大廈(高新二路) 【成都分部】:領館區1號(中和大道) 【沈陽分部】:沈陽理工大學/六宅臻品 【鄭州分部】:鄭州大學/錦華大廈 【石家莊分部】:河北科技大學/瑞景大廈 【廣州分部】:廣糧大廈 【西安分部】:協同大廈
近開課時間(周末班/連續班/晚班):DFT可測試性設計理論和實踐培訓班開課時間:2025年2月17日....................(歡迎您垂詢,視教育質量為生命!) |
實驗設備 |
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新優惠 |
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質量保障 |
1、培訓過程中,如有部分內容理解不透或消化不好,可免費在以后培訓班中重聽;
2、課程完成后,授課老師留給學員手機和Email,保障培訓效果,免費提供半年的技術支持。
3、培訓合格學員可享受免費推薦就業機會。 |
DFT可測試性設計理論和實踐培訓班
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第一階段 |
課程大綱:
1. VLSI test
2. DFT要點
3. DFT設計流程
4. DFT設計技巧
5. Fault model
6. ATPG
7. ATPG技巧
8. Fault simulation
9. Fault 要點
10. Fault 技巧
11. Fault 流程
12. Scan
13. 掃描技巧
14. 掃描要點
15. 掃描流程
16. JTAG
17. Logic BIST
18. Test compression
19. Memory test
20. Memory 測試要點
21. Memory測試流程
22. Memory測試技巧
23. scan chain/ BSD/BIST 概念與設計方法
24.DFT 的測試原理/測試方法( D算法 向量產生與仿真)
25.BSD 基本單元和JTAG測試
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第二階段 SCAN synthesis |
1.Scan概念及方法介紹
2.Scan實現流程及問題解決
3.Scan DRC violation講解及解決方法
4.Scan技巧
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第三階段 ATPG |
1.ATPG介紹
2.Fault models
3.Fault simulation
4.ATPG DRC Violation的解決方法
5.ATPG patten generation
6.測試壓縮及方法
7.ATPG patten驗證
8.ATPG技巧
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第四階段 JTAG/1500 |
1.JTAG方法
2.JTAG及其擴展應用
3.JTAG實現及驗證
4.JTAG技巧
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第五階段 BIST/MBIST |
1.BIST/MBIST 方法
2.Memory類型介紹
3.BIST solution
4.MBIST算法
5.MBIST驗證
6.BIST/MBIST 技巧
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